イメージ・メトロロジー社が開発したスキャニング・プローブ・イメ－ジ・プロセッサ（SPIP™）は、ナノスケールのデ－タ処理に関する世界標準を達成しました。

使用者が画像処理の初心者でも、マウスをクリックするだけで、必要な資料を作成できます。

 　SPIP™は、半導体検査、物理学、材料科学、化学、生物学、測定学、ナノテクノロジーなどの分野で画像処理に活用されています。実際の応用例をご覧になりたい方は、こちらをクリックして下さい。
　SPIP™の最大の特徴は、走査型プローブ顕微鏡（SPM）、干渉顕微鏡、共焦点顕微鏡、原子間力顕微鏡（AFM）、プロファイラー、走査型電子顕微鏡（SEM）などの広範囲にわたる各種顕微鏡に使用できることと、それら顕微鏡の60以上の画像ファイルフォ－マットをサポーとしている点です。